簡要描述:100CR X射線光譜儀探測器尺寸:3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)(mm)電池種類:鋰電池測量精度:1ev電源電壓:5V(V)用途:X射線光譜儀探測器:SiPIN重量:139克鈹窗面積:5 mm2到25 mm2能量分辨率:5.9kev55Fe半峰寬:145eV到230eV(取決于探測器種類和形成時(shí)間常數(shù))
產(chǎn)品目錄
交易條件 | 供應(yīng)能力 | ||
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zui小起訂量: | 1 個(gè) | 生產(chǎn)率: | 100 |
包裝: | 紙盒加軟綿 | ||
交貨期限: | 10 |
光譜儀探測器
美國AMPTEK/XR-100CR/XR-100CR是一種新的高性能X射線探測器,包括前置放大器和制冷系統(tǒng),通過熱電法冷卻的Si-PIN光電二極管作為X射線探測器。在二級制冷系統(tǒng)上還裝有輸入場效應(yīng)管和一個(gè)新型的反饋電路。這些組件大約-55的環(huán)境下工作,其溫度由一個(gè)內(nèi)置的溫度傳感器控制。探測器的密封TO-8包裝有一個(gè)缽薄膜窗口,用于軟X射線探測。XR-100T-CdTe 代表在X-射線探測器技術(shù)的一個(gè)突破,可提供"現(xiàn)成的"結(jié)果,而以前則只能從昂貴的低溫冷卻系統(tǒng)得到。另外XR-100T-CdTe還適用于伽馬射線的測量。XR-100CR硅PIN探測器/XR-100SDD硅漂移X射線探測器/XR-100T碲化鎘X射線和伽馬射線探測器/X-123SIN/X-123SDD/X-123CdTe型X射線光譜儀/多道處理器/閃爍體探測器
X射線熒光
ROHS/WEEE標(biāo)準(zhǔn)
便攜式儀器
原始設(shè)備制造
核醫(yī)學(xué)成像
教學(xué)研究文物考古
程控
穆斯堡爾譜儀
空間物理和天文學(xué)
環(huán)境X射線檢測
有毒物垃圾場監(jiān)測
粒子誘發(fā)X射線熒光分析
XR-100CR
◇149eV的分辨率,全固態(tài)無液氮設(shè)計(jì)
◇SI-PIN光敏二極管,二級熱電冷卻器
◇內(nèi)置溫度控制監(jiān)測檢測器,密封的鈹檢測窗
◇檢測范圍廣,操作簡單
XR-100SDD
◇高計(jì)數(shù)率——5000,000 CPS
◇對峰值5.9keV的分辨率為139eV
◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1
◇規(guī)格為:7 mm2 * 500 µm
◇無液氮
XR-100CdTe
◇CdTe二極管探測器,熱電冷卻器(Peltier)
◇FET冷卻
◇鈹檢測窗,密封包裝(TO-8)
AXAS 系統(tǒng)
AXAS系統(tǒng)集成了記錄計(jì)數(shù)率在1.000.000 計(jì)數(shù)/s以上的超快MCA和SDD (硅漂泊二極管)。利用MCDWIN MCA 軟件,AXASMCA可以成為非常小的*分光計(jì),從而使獲取光譜變得很容易。它還可以通過USB接口讀取數(shù)據(jù),因此該系統(tǒng)可以通過便攜式計(jì)算機(jī)在任何地點(diǎn)工作。
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100CR X射線光譜儀探測器詳細(xì)參數(shù)
探測器類型:硅針探測器(Si-PIN)
探測器尺寸:5 mm2---25 mm2
硅厚度:300µm,500µm,680µm
能量分辨率(5.9kev,55Fe):半峰寬145eV-230eV(取決于探測器種類和形成時(shí)間常數(shù))
背景記數(shù):<3*10-3/s,2KeV-150KeV(針對7mm2/300um探測器)
探測器鈹窗厚度:1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)
電荷敏感前置放大器:用戶定制設(shè)計(jì)
增益穩(wěn)定性:<20PPM/(典型)
尺寸:3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)
重量:139克
總功率:<1瓦
器件壽命:5-10年
操作環(huán)境:0-40
認(rèn)證:TUV
前置放大器功率:正負(fù)8-9V,15mV(不超過50mV的蜂噪音)
探測器功率: 100V-200V,1µA(取決與探測器類型),非常穩(wěn)定,偏差<0.1%
制冷器功率:電流zui大值為350mA,電壓zui大值為4V(峰噪音<100mV,)
前置放大器靈敏度:典型值1mV/KeV(對于不同的探測器可能有差異)
前置放大器極性:負(fù)信號輸出(zui大負(fù)載1K歐姆)
前置放大器反饋:通過探測器電容進(jìn)行重置
溫度靈敏度:PX4通過軟件直接讀取開爾文溫度
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